广立微：公司扩展研发晶圆级可靠性测试设备 现已实现关键功能开发

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5月28日电，广立微接受机构调研时表示，面向晶圆级可靠性测试领域，公司扩展研发了晶圆级可靠性测试（WLR）设备，现已实现关键功能开发，扩充了公司电性测试设备产品线。2023年T4000机型及可靠性测试设备均将投入市场Demo验证应用和推广，助力业务持续增长。

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